微分干涉显微镜(DIC)通过偏振光干涉技术，将样品表面微小高度差异转化为光程差，实现高对比度成像。
微分干涉显微镜是一种利用相干光干涉现象进行高分辨率成像的显微镜技术。它通过将样品表面形貌的变化转化为光程差，利用位置敏感探测器检测光波前的强度变化，并通过数字信号处理得到样品表面的高度变化。DIC显微镜能够以高分辨率和充足对比度观察未染色的生物样本，甚至产生出浮雕效果的图像。
工作原理
DIC显微镜的工作原理基于相干光干涉现象。它利用偏振光在样本内产生的不同相移，通过干涉效应增强结构的对比度。具体来说，光源发出的光线经过偏振片后变为线偏振光，进入微分干涉棱镜后分为两个垂直偏振平面的线性偏振光。这两束光分别照射到样本的不同区域，由于样本厚度的差异导致两束光的相位差不同，在目镜中形成干涉图样，从而反映出样本表面的形貌信息。
DIC显微镜在多个领域有广泛应用：
生物显微学 ：用于观察细胞形态和结构，以及生物分子和蛋白质的形态和互作。它还可以用于细胞和组织的三维成像和动态观察。
材料科学 ：用于研究材料的表面形貌和纳米结构，如微型元件、纳米粒子、生物材料等。
半导体工业 ：通过非接触测量方式监测半导体芯片的表面精度，提高生产过程的可靠性和效率。
PCB质量检测 ：检测PCB表面和内部的细微缺陷，如开路、短路、裂纹等。
精密机械制造 ：用于精密机械零件的表面质量检测和加工过程监控。
